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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
產(chǎn)品型號：S3500
更新時間：2024-11-06簡要描述：美國microtrac粒徑分析儀S3500 是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統(tǒng)為各種應(yīng)用提供了精確，可靠和可重復(fù)的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補(bǔ)償球形粒子和專的利原理的改進(jìn)的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm性能指標(biāo)
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統(tǒng)為各種應(yīng)用提供了精確，可靠和可重復(fù)的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補(bǔ)償球形粒子和專的利原理的改進(jìn)的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標(biāo)
1.三激光，紅色，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.對非球形粒子采用米氏補(bǔ)償和修正米氏計算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學(xué)元件的完的全保護(hù)，很少或沒6.6有操作員干預(yù)
優(yōu)點
1.利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對廣泛樣本進(jìn)行分析的靈活性
2.專的利改進(jìn)的Mie計算允許用戶精確測量復(fù)雜的粒子，而其他粒子分析儀很難準(zhǔn)確地描述
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時間
4.固定探測器堅固耐用，并確保正確的定位
5.設(shè)備占地空間小，節(jié)省實驗室的寶貴空間
美國microtrac粒徑分析儀S3500
是第一個使用三個精確放置的紅色激光二極管來精確描述顆粒的粒度分析儀，專的利的三激光系統(tǒng)為各種應(yīng)用提供了精確，可靠和可重復(fù)的粒度分析，利用已證明的理論的Mie補(bǔ)償球形粒子和專的利原理的改進(jìn)的Mie計算非球形粒子。S3500測量的粒度從0.02到2800µm
性能指標(biāo)
1.三激光，紅色，多探測器，多角度光學(xué)系統(tǒng)
2.對非球形粒子采用米氏補(bǔ)償和修正米氏計算的算法
3.測量范圍從0.02到2800µm
4.干濕法測量
5.封閉的光路確保光學(xué)元件的完的全保護(hù)，很少或沒6.6有操作員干預(yù)
優(yōu)點
1.利用三種紅色激光器，增加了測量范圍，為您提供了對廣泛樣本進(jìn)行分析的靈活性
2.專的利改進(jìn)的Mie計算允許用戶精確測量復(fù)雜的粒子，而其他粒子分析儀很難準(zhǔn)確地描述
3.從濕測量到干測量的無縫過渡減少了停機(jī)時間
4.固定探測器堅固耐用，并確保正確的定位
5.設(shè)備占地空間小，節(jié)省實驗室的寶貴空間
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